ASML, TSMC и imec продемонстрировали транзисторы на основе двумерных материалов на пластинах диаметром 300 мм с применением EUV-литографии при шаге контактов 50 нм.
Результаты, представленные на симпозиуме VLSI 2026 в Гонолулу, стали первым случаем формирования как n-типа, так и p-типа 2D-транзисторов методом EUV-литографии при таких топологических нормах.
Работа опирается на рекордные транзисторы на основе WSe₂, показанные на IEDM 2025, и свидетельствует о прогрессе на пути к возможной замене кремниевых каналов в передовых чипах.
Работа подчёркивает прогресс в переходе от лабораторных демонстраций к масштабируемому производству 2D-материалов (TMD — transition metal dichalcogenides) как потенциальной замены кремниевых каналов в будущих узлах (sub-2nm / angstrom era).71ff5e
Демонстрация 2D-транзисторов на базе MoS₂/WSe₂ на 300-мм пластинах с EUV-литографией при 50 нм pitch представляет собой не инкрементное развитие CMOS-технологии, а подтверждение возможности масштабируемой реализации нового класса транзисторных каналов на основе двумерных материалов, в которых кремний не используется в качестве канального материала.
Инфа есть в последней части обзора
Комментариев нет:
Отправить комментарий